EIDECワークショップ2018 - EIDEC
HOME > EIDECワークショップ2018 概要
EIDEC Symposium 2018

EIDECワークショップ2018

EIDECワークショップ 2018開催にあたって

株式会社 先端ナノプロセス基盤開発センター
代表取締役社長 石内 秀美

「開催趣旨」

EIDECは2016年度に社名を「株式会社先端ナノプロセス基盤開発センター」に変更、デバイス設計・製造にあたって問題となる、ナノレベル欠陥の改善・制御をテーマとして、NEDO(*)委託事業「超先端材料超高速開発基盤技術プロジェクト」の中の「先端ナノ計測評価技術開発」を部分受託しました。この国家プロジェクトを軸として、民間研究開発も同時並行的に推し進める形で、NDM(Nano Defect Management)プロジェクトを推進する母体として、皆様からの支援を頂いております。

昨年5月には、「EIDECワークショップ 2017」を開催し、『先端ナノ計測技術の革新とその産業展開』というテーマのもと、2件の招待講演の実施、及びEIDECからのNDM研究成果についてご報告し、ワークショップご出席者皆様からのご意見等をフィードバックさせて頂く貴重な機会を得ました。

今年は最近のデバイス製造視点から見た先端ナノ計測技術というテーマを中心に招待講演を頂き、またNDM研究成果についてもより進んだ内容のご報告を実施する予定でおります。開催趣旨ご理解頂き、本年もEIDECワークショップへのご出席・ご協力の程何卒よろしくお願い申し上げます。

2018年4月吉日

開催次第

日時 2018年6月6日(水)
場所 中央大学駿河台記念館 281号室(JR 御茶ノ水駅より徒歩5分)
ワークショップ 13:00~17:45
意見交換会 18:00~19:30(予定)
参加費 10,000円
※ワークショップ・意見交換会参加費含む。
※テキストは含まれません。ご参加者には、講演データがワークショップ開催後にEIDECウェブサイトよりダウンロード可能となります。